后端开发 第27页
GlobalService类-拾光赋

GlobalService类

GlobalService类,public class GlobalService { private static IServiceScope? _currentScope; private static readonly Lazy<string> _serverAddress = new Lazy<string>(GetServ...
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DotTrace系列:6. 程序异常诊断 和 Request慢处理-拾光赋

DotTrace系列:6. 程序异常诊断 和 Request慢处理

DotTrace系列:6. 程序异常诊断 和 Request慢处理,一:背景 1. 讲故事 在我分析的众多dump中,有一些CPU爆高是因为高频的抛 Exception 导致,比如下面这张图,有 19 个线程都在抛 xxxResultExce...
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芯片测试中由MCU下载程序,测试芯片内接口、FLASH等情况-拾光赋

芯片测试中由MCU下载程序,测试芯片内接口、FLASH等情况

芯片测试中由MCU下载程序,测试芯片内接口、FLASH等情况,芯片测试中“由 MCU 下载程序,测试芯片内部接口、FLASH 等情况并反馈结果”通常是在生产测试(ATE)或板级测试(ATE-BIT/BIST)阶段使...
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6.25小学期CPP基础语法记录-拾光赋

6.25小学期CPP基础语法记录

6.25小学期CPP基础语法记录, reverse函数 在 C++ 中,reverse 是一个非常常用的 STL 算法,用于就地反转序列中的元素顺序。它定义在 <algorithm> 头文件中。 🧩 函数定义 template <cl...
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Syncfusion UI 社区(白嫖)许可申请-拾光赋

Syncfusion UI 社区(白嫖)许可申请

Syncfusion UI 社区(白嫖)许可申请,简介 Syncfusion 是一个老牌.net组件供应商,旗下有很多基于.net技术栈的企业级UI库,涵盖了当下流行的web PC mobile 等平台的UI控件和报表工具。包括针对PD...
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DotTrace系列:4. 诊断窗体程序变卡之原因分析-拾光赋

DotTrace系列:4. 诊断窗体程序变卡之原因分析

DotTrace系列:4. 诊断窗体程序变卡之原因分析,一:背景 1. 讲故事 写这一篇是因为昨天看 dottrace 官方文档时,在评论区看到了一条不友好的评论,截图如下: 虽然语气上带有些许愤怒,但说实话...
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03210
[原创]《C#高级GDI+实战:从零开发一个流程图》第04章:来个圆形,连线它!-拾光赋

[原创]《C#高级GDI+实战:从零开发一个流程图》第04章:来个圆形,连线它!

[原创]《C#高级GDI+实战:从零开发一个流程图》第04章:来个圆形,连线它!,一、前言 上一节我们实现了在矩形与矩形之间添加连线,光是矩形太单调了,某些问题也暴露不出来,我们本节就来看一下...
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C#.Net筑基-优雅LINQ的查询艺术-拾光赋

C#.Net筑基-优雅LINQ的查询艺术

C#.Net筑基-优雅LINQ的查询艺术, Linq(Language Integrated Query,集成查询语言),顾名思义就是用来查询数据的一种语言(可以看作是一组功能、框架特性的集合)。在.NETFramework3.5(大概20...
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WPF中如何实现在一个弹窗中一个输入内容的表单,并在父窗口显示-拾光赋

WPF中如何实现在一个弹窗中一个输入内容的表单,并在父窗口显示

WPF中如何实现在一个弹窗中一个输入内容的表单,并在父窗口显示,在wpf开发中,你有没有需要用到这样的场景,比如:在父窗口显示表单的输入的内容,然后再进行一些处理逻辑等,表单可以很复杂,...
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Sciter.JS在Windows下的环境搭建过程-拾光赋

Sciter.JS在Windows下的环境搭建过程

Sciter.JS在Windows下的环境搭建过程,最近折腾了很多C++ GUI,感觉没有前端或者移动端的UI来的痛快~ 最近找到了这个叫做 Sciter.JS 的可嵌入式的HTML/CSS/JS 引擎, 可以使用前端的逻辑来为C++...
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技术书籍推荐(007):电子书免费下载-拾光赋

技术书籍推荐(007):电子书免费下载

技术书籍推荐(007):电子书免费下载,110. 【清华第四版】DeepSeek+DeepResearch——让科研像聊天一样简单 免费 电子书 PDF 下载 下载地址: http://t-book.sunlogging.com/2025/06/03/book/book_...
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03015
芯片测试中的电源管脚接触测试-拾光赋

芯片测试中的电源管脚接触测试

芯片测试中的电源管脚接触测试,电源管脚接触测试(Power Pin Contact Test)是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚(如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等)是否与测试治具或探针台良好接触的关键测...
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